Ux-720 精密镀层测厚仪专用X射线荧光光谱仪是华唯公司经过3年研发，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、 达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；华唯的VisualFp基本参数法分析软件， 可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。 精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。 镀层测厚仪产品指标： 测厚技术：X射线荧光测厚技术 测试样品种类：金属镀层，合金镀层 测量下限：0.003um 测量上限：30-50um（以材料元素判定） 测量层数：10层 测量用时：30-120秒 探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV 高压范围：0-50Kv，50W X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类； 光管靶材：Mo靶； 滤光片：专用3种自动切换； CCD观察：260万像素 微移动范围：XY15mm 输入电压：AC220V，50/60Hz 测试环境：非真空条件 数据通讯：USB2.0模式 镀层测厚仪准直器：0.5mm?1mm，?2mm，?4mm 软件方法：FlexFP-Mult 工作区：开放工作区 自定义 样品腔：330×360×100mm
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