涂层测厚仪GT820NF
涂层测厚仪GT820NF
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数字式涂层测厚仪GT820NF 涂镀层测厚仪 膜厚计 一、概述 本仪器采用涡流测厚方法,可无损伤地检测非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。 本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护的仪器。 1) 本仪器符合以下标准 GB/T 4956-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量(涡流方法) 2) 特点 便携设计,手掌大小 采用高速的DSP芯片,具有快速的测量能力 人性化设计,简单操作 在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换 两种校准方式,点校准和二点校准 宽角度LCD液晶显示 公制和英制单位转换 具有电源欠电提示 操作过程有蜂鸣提示 具有自动关机功能 3) 测量原理 涡流法 利用高频交变电流线圈中产生一磁场,当测头与金属接触时,金属基体上会产生涡流,并对测头具有反馈作用,通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。 显示说明 Um/mil 测量单位 CAL 校准提示 Fe 表示磁性基体测量状态 NFe 表示非磁性基体测量状态 8.8.8.8 测量厚度显示区 电源欠电压提示 技术参数 测量范围:0~1250um 工作电源:2节5号电池 测量精度误差:点校准 ±(1.5+3%H);二点校准 ±(1%∽3%)H+1.5 环境温度:0-40℃ 相对湿度:≤85% 小基体:10*10 mm 小曲率:凸 5mm/ 凹 5mm 薄基体:0.4mm 重量:99g(含电池) 尺寸:102mmx66mmx24mm 测量时注意事项 1) 基体金属特性 对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。 2) 基体金属厚度:检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后,可以测量。 3) 边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。 4) 曲率:不应在试件的弯曲表面上测量。 www.uvcnn.com 5) 读数次数:通常由于仪器的每次读数并不相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗糙时更应如此。 6) 表面清洁度:测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。 7) 磁场:周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。 8) 测头取向:测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。
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