YL-ScinAF－05B是本公司研制的一款高精密余辉测量系统。本仪器采用X光源为激发源

（脉冲与连续两种模式），进口高增益、噪声光电倍增管为光电探测器，采用高速ADC和FPGA、DSP技术设计实现高速的数据采集。采用USB接口实现系统与计算机的测 试数据和控制数据的传输。采用VC++可视化软件编程，实现多种采集模式，实时显示仪 器的各种参数；根据余辉测量的特点，对实验曲线进行拟合，得到材料缺陷结构、余辉性能等各种参数。它以计算机为控制中心，测试过程实现自动化。仪器建立一套评价闪烁材料（包括无机闪烁晶体、闪烁陶瓷、闪烁薄膜）余辉性能的测试系统，用于相关闪烁材料余辉性能的量化表征；为研发余辉闪烁材料及器件提供重要技术支撑。本仪器采用模块化设计，质量可靠，造形美观，使用方便，温度控制稳定，涉及多项专利技术。

余辉测量时间范围：5微秒～1000毫秒；

l 余辉测量动态范围：1～104；

l 波长测量范围：200－900nm；

l 脉冲X源下降沿短于50纳秒；连续X源下降沿小于3毫秒；l 仪器标配固体品品台和粉末、液体样品台，可测量包括晶体、陶瓷、粉末以及液体闪烁材料；l 仪器采用PC控制、实现整个测试系统的高压加载、校准、激发、数据采集、存储等 功能的实时与自动化控制。l 提供配套的热释光分析软件，内置热释光一级、二级、一般级动力学模型，并可进一步对发光曲线进行拟合、解谱分析等