美华科技SCS-CInk200的墨点芯片识别计数系统主要应用于半导体行业（LED芯片、光通讯芯片）等企业的产品来料统计和出货计数、过程检验等领域；当客户对整片Wafer上每个Die的基本器件参数进行测试时， 例如Vt（阈值电压），Rdson（导通电阻），BVdss（源漏击穿电压），Igss（栅源漏电流），Idss（漏源漏电流）等，会把坏的Die挑出来，并用墨点（Ink）标记，该系统可检测并标记墨点芯片和合格芯片的数量，其功能特点如下：

l 针对客户产品特点和检测需求提供灵活的软硬件配置方案， 满足不同视野检测需求。

2系统集成图像处理领域的亚像素识别检测算法，可识别芯片墨点，区分NG与OK种类及数量，可应对行各种高密度、小尺寸芯片及散装颗粒的检测和计数需求。

3 具有手动、半自动、全自动和自动扫描计数等多种运行模式，可应对企业不同情况生产需求。

4具有位置异常报警、计数精度异常报警等多种异常检测及处理功能，满足客户生产品质和精度要求。

5 具有自动加载工艺参数、自动保存计数结果、MES系统接入等功能，减少人工干预，提高产能和可靠性。